Titre
Spectroscopic Ellipsometry - Principles and Applications
Auteur
Fujiwara, Hiroyuki (National Institute of Advanced Industrial Science & Technology, Tsukuba, Japan)
Langue
anglais
ISBN
9780470016084
Éditeur
John Wiley & Sons Inc
Prix
€ 282,60(Excl. toute livraison)
Frais de livraison
€ 2,95
Détails
2007 392pp Gebonden
Plus d'informations
Annotatie
Ellipsometry is a powerful tool used for the characterization of thin films and multi layer semiconductor structures. This book deals with fundamental principles and applications of spectroscopic ellipsometry (SE).
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Ellipsometry is a powerful tool used for the characterization of thin films and multi-layer semiconductor structures. This book deals with fundamental principles and applications of spectroscopic ellipsometry (SE).
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